IEEE DES TEST是IEEE Design & Test期刊的縮寫。IEEE DES TEST期刊的出版地是UNITED STATES，主要的研究方向是工程技術-計算機：硬件。

IEEE設計與測試提供了描述用于設計和測試微電子系統(tǒng)的模型、方法和工具的原創(chuàng)作品，從設備和電路到完整的片上系統(tǒng)和嵌入式軟件。該雜志專注于當前和近期的實踐，包括教程、入門文章和現(xiàn)實案例研究。該雜志力求通過專欄、訪談和圓桌討論，為讀者帶來重要的技術進步，同時也為技術領導者及其觀點。主題包括半導體集成電路設計、半導體知識產(chǎn)權模塊、設計、驗證和測試技術、制造和生產(chǎn)設計、嵌入式軟件和系統(tǒng)、低功耗和節(jié)能設計、電子設計自動化工具、實用技術和標準。

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